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      • QTJ8600T功率半導體器件測試機
        QTJ8600T功率半導體器件測試機

        QTJ8600T功率半導體器件測試機功率半導體器件測試機 實現全自動化測試過程,滿足不同器件測試對測試機的要求。 本產品為IGBT、SiC等功率半導體器件提供全套功率測試解決方案,可高效實現從晶圓級到最終產品的ISO、DC、AC等全套測試,實現全自動化測試過程,并配置豐富的測試接口和功能模塊選擇,滿足不同器件測試對測試機的要求。

        更新日期:2023-09-05型號:訪問量:91
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      • QTJT650010000F功率器件動態參數測試系統
        QTJT650010000F功率器件動態參數測試系統

        QTJT650010000F功率器件動態參數測試系統 是一款針對高電壓、大電流功率半導體器件動態特性測試開發的綜合測試系統,集成信號發生器、高壓直流電源、測試主回路、 高壓保護模組、測試夾具、溫控系統、測量系統、人機交互界面,支持 6500V 以下電壓等級功率半導體器件測試,最高脈沖電流可達 10000A。

        更新日期:2023-09-05型號:訪問量:114
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      • PM-750動力及電力儲能電池測試及模擬系統
        PM-750動力及電力儲能電池測試及模擬系統

        PM-750 動力及電力儲能電池測試及模擬系統應用于各種新能源電池包、模組、單體的性能壽命容量,工況等測試,動力電池(l鋰電池、鎳氫、鉛酸、超級電容、燃料電池等)標準及工況測試,儲能電池(鋰電池、鎳氫、鉛酸、鈉硫、液流電池等 )標準及工況測試,可定制和編程以模擬電池的電氣特性,作為輸出恒電壓源以及帶數學模型的恒壓源用于電機測試平臺。

        更新日期:2022-11-09型號:PM-750訪問量:552
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      • SS7081-50BMS電池芯仿真模擬系統
        SS7081-50BMS電池芯仿真模擬系統

        BMS電池芯仿真模擬系統SS7081-50是一款12路電池電池片電壓發生器,可提供電源,電子負載和DMM功能集成在一個軟件包中。該系統的簡單結構使構建BMS功能驗證環境比以往任何時候都更安全、更經濟、更有效率,輕松、安全地構建高度精確的BMS*驗證環境(*BMS:電池管理系統),作為電壓發生器或模擬電池代替實際電池和電源,建立高效的測試環境。

        更新日期:2022-11-06型號:SS7081-50訪問量:454
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      • 遠方BBMS-4000空間透反射分布測試系統
        遠方BBMS-4000空間透反射分布測試系統

        遠方BBMS-4000空間透反射分布測試系統 可分析測量材料表面的反射、透射特性,可測參數包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,特別適合手機屏、雷達視窗、光學膜材、特種鍍層、涂層、紙張、玻璃、異形鋁材、塑膠等材料表面光學特性的定量分析。系統可以可以導出標準BSDF文件至Tracepro、Zemax等

        更新日期:2022-04-29型號:訪問量:766
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      • 遠方BBMS-3000反射透射空間分布測試系統
        遠方BBMS-3000反射透射空間分布測試系統

        遠方BBMS-3000反射透射空間分布測試系統 BBMS-3000雙向反射透射空間分布測量系統可分析測量材料的反射、透射空間分布特性??蓽y參數包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,系統可以導出標準文件至lighttools、Tracepro、Zemax、Speos等光學軟件中,用于輔助光學材料或系統的模擬、

        更新日期:2022-04-29型號:訪問量:797
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      • 聯訊eDH3101高溫高濕老化系統
        聯訊eDH3101高溫高濕老化系統

        聯訊eDH3101高溫高濕老化系統是一體化高溫高濕雙85老化系統,一個針對第三代半導體芯片可靠性測試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗。該系統已經在激光器芯片行業和第三代半導體兩大行業通過大量認證,是一個可靠穩定的系統。

        更新日期:2021-12-22型號:訪問量:615
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      • 聯訊CT8201激光器芯片測試系統
        聯訊CT8201激光器芯片測試系統

        聯訊CT8201激光器芯片測試系統聯訊儀器 CT8201 激光器芯片測試系統是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠場參數測試需求開發的。

        更新日期:2021-12-22型號:訪問量:647
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